Nos thématiques

Moyens et Compétences du groupe :

  • Caractérisation électrique:
    • Métrologie de la mesure à très faible courant (mesures des courants d’obscurité pour les cellules PV, courants de fuite sur les composants microélectroniques, mesure du bruit BF pour la caractérisation de défauts induits dans les composants …).
    • Métrologie de mesures en température (effets thermiques à l’origine de la dégradation des performances des composants dans des conditions extrêmes, caractérisation des défauts dans les matériaux).
    • Métrologie de la mesure aux fortes densités de courants (création de charges dans les mémoires 1TDRAM ou dans les cellules PV aux fortes concentrations solaires).
    • Mesures sous vide pour la caractérisation de nanomatériaux à base de nanotubes de Carbonne et de nano particules de Silicium.
  • Moyens de modélisation :
    • Modèles spécifiques pour l’étude du transport électrique dans des structures inhomogènes (nanotubes et nano cristaux de silicium).
    • Modélisation TCAD à l’aide d’outils commerciaux (Synopsys, Silvaco …) pour le développement de composants (1TDRAM et cellules PV de troisième génération).
    • Modélisation thermique (1TDRAM et cellules CPV).