Bien que nos thématiques continuent de s’inscrire dans les activités de recherche « historiques » de l’équipe RADIAC (compréhension des mécanismes physiques de base, méthodes de qualification, études de la fiabilité et prédiction), elles évoluent pour s’adapter aux besoins qui apparaissent chaque jours.

Dans un contexte d’intégration technologique, avec l’arrivée de nouvelles technologies, l’utilisation de systèmes électroniques complexes et de composants standards du commerce (COTS), mais également avec les environnements radiatifs rencontrés et les contraintes de test du monde industriel, nous essayons de toujours être en avance de phase sur les problématiques à venir. Pour les années à venir, le travail de l’équipe se concentrera principalement sur les sujets suivants :

• L’étude des phénomènes physiques de base sur les technologies MICROCHIP, aux études sur les technologies SiC et GaN et toute autre technologie émergente.

• Le développement du logiciel ECORCE, simulateur TCAD permettant de prendre en compte les effets radiatifs (Dose SEE, Déplacement) avec un maillage dynamique et adaptatif Ce développement est en lien avec le point précédent sur l’étude des phénomènes physiques de base sur des composants.

• Le développement des outils de prédiction (MC-ORACLE et DHORIN).

• L’approche au niveau système basé sur des COTS semble devenir incontournable et il est donc nécessaire de trouver des solutions pour fiabiliser et qualifier de tels systèmes. Les résultats du projet RADSAGA serviront de base à ces études.

• La fiabilité prédictive. Ce sujet est très ambitieux. L’objectif est d’utiliser des systèmes intelligents (réseau bayésien, système neuromorphique) pour identifier les systèmes électroniques les plus robustes ou pour anticiper leur durée de vie.

• La prise en compte des effets de synergie liés à des contraintes combinées effets électromagnétiques / effets radiatifs reste encore à explorer et les premiers travaux que nous menons montrent la pertinence de cette approche. Considérer chaque effet séparément n’est pas forcément judicieux à partir du moment où il y a une interdépendance des phénomènes physiques. L’étude de la susceptibilité électromagnétique de systèmes électroniques irradiés se poursuivra sur des systèmes plus complexes, notamment des « high-frequency power amplifiers » (PA) et des « low-noise amplifiers » (LNA). De plus, l’imagerie en champ proche semble être un outil d’analyse fin pour la caractérisation locale de matériaux. L’utilisation de cette technique dans l’étude de la fiabilité des structures irradiées constituera un moyen de caractérisation complémentaire pour l’équipe RADIAC.